|
|
|
Ana
Sayfa >> Temsilcilikler >> Precitec
Türkiye distribütörlüğünü
yaptığımız PRECITEC firmasının faaliyet Konuları;
Ana Uzmanlık Alanları;
CHR 150
E
Tabaka Temassızlıkları ve Kopuklukları Ölçümü
Laboratuar ve fabrikalarda, yüzey durumu CHR 150 E olan her şeyi kesin ve
sağlam bir şekilde ölçebilmektedir.
-
Tarama Hızı, 10 nm
çözünürlükte 300 µm aralıkta 1 kHz’dir.
-
Ölçüm açısı, uzun
mesafede, normal ve reflektif yüzeyler için (90° ± 30° ) dir.
-
Beyaz ışık ölçümü(
Ufak lekelerden dolayı sonuç sapmıyor)
-
Odaktaşlık yöntemi
ile uç noktalarda oluşabilecek solmalar engellenir.
-
Başlıca Kullanımlar
-
Saydam tabakaların
ve yüzeylerin ölçümü
-
Topoğrafik
mikro-yapıların ölçümü
-
Müşterilerin kişisel
gereklerini karşılayabilecek şekilde kolayca otomatikleştirilebilir bir
sistemdir.
Precitec
Optronik Mark
III
2D ve 3D Yüzeylerin Analiz Karakteristiği
-
3D ve 2D yüzeylerin
analiz verileri, birçok yerde 3D görünüm, çapraz bölgesel profil, çeşitli
filtre fonksiyonları
-
Pürüzlülük,
dalgalılık, uzunluk dağıtımı, eğriler ve zerreciklerin boyutlarının
hesaplanması
-
Alan-hacim
hesaplanması, mesafe ölçümü, açılar, eğim derecesi, polinom ve küresel
uyum
-
ASCII, Burleigh,
RM600, Perthometer vb. ticari yüzey ölçüm sistemlerini destekler
formattadır.
Precitec
Optronik Mark
III
Fonksiyonları
Dosya
Formatı
-
ASCII, Burleigh,
Digital Instruments, FRT, Hommelwerke, Perthometer, PSI, RM600, SIS, Veeco,
ve diğer formatları destekler
-
TIFF, GIF, BMP, and
JPEG dosyaları giriş yapabilir
-
Döküman hazırlamak
için BMP (8-bit), GIF, TIFF, yada JEPG dosyaları diyagram olarak çıkış
yapabilir.
|
Görünümler
-
Birçok açıdan 3D
görünüm
-
Izgara modeli
-
Gerçek ışık
kaynağı
-
2D plan görünümü
-
herhangi bir
çapraz bölgesel profil isteği
-
dinamik profil
-
bölge seçimi
için yakınlaştırma fonksiyonu
-
birçok değişik
renkte tablo seçeneği
-
ayarlama
fonksiyonu
-
Diyagram
manşetleme fonksiyonu
Filtre
Fonksiyonları
-
Düzleştirme
filtresi , medyan filtresi
-
Uç geliştirme
için Sobel ve Roberts işlemcileri
-
türetme
-
Fourier yer
filtresi
-
Sivri uçların
yer değiştirilmesi
-
Geçersiz
bilgilerin düzeltilmesi
Modifiye
Fonksiyonları
-
Düzlüklerin ve
çizgilerin çıkarılması
-
0-6th-polinom
emri
-
3- puanlı
düzlük çıkarılması
-
Kolonlar ve
çizgilerle çıkarma
-
Kolonlar ve
çizgilerin modifkasyonu
-
Kullanıcının
belirlediği aritmetik fonksiyonlar
|
Fonksiyon
Analizleri
-
Ölçümlenme;
-
Alan, hacim
-
Uzaklık ve
açılar
-
DIN / ISO’ya
gore pürüzlülük ve dalgalılığın saptanması
-
MOTIF pürüzlülük
değerlerini saptanması
-
Uygun
fonksiyonlar
-
0-6th-
polinom emri
-
Küresellik
fonksiyonu
-
Trigonometrik
fonksiyon
-
Saptama
-
histogram
(uzunluk dağıtımı)
-
kıvrımlık
-
zerrecik
boyutları
Minimum
Sistem Gerekleri
-
IBM uyumlu PC
-
Windows 95 / 98
-
16 MB RAM
(önerilen 32 MB)
-
Monitor
çözünürlüğü 800 x 600 (önerilen 1024 x 768)
-
Paralel port LPT
1
Taşınabilme İmkanı
-
Medya yüklemesi
(CD-ROM yada 1.44 MB disketleri)
-
manuel (Almanca
/ İngilizce)
-
Donanım Anahtarı
(dongle)
|
NEMESIS
P
Optik 3D ölçüm sistemi
- Topoğrafik Portatif Ölçüm Sistemleri
NEMESIS P Topografya, profilleri, ve tabaka incelikerinde 3D temassızlık
ölçümünü tam olarak gerçekleştirir. Fabrika ve laboratuarlarda çizgisel
kısma, piezoelektrik lineer motorlarıyla kullanıldığında ücretsiz bakım
garantisi verilmektedir.
|
Sensör
CHR 150
E optik sensörü, ölçümleri kaydetmek için kullanılır. Beyaz ışıkla
kromatik kodlama, yüzeyin yapısı ve rengiyle ilgilenmeden temassızlık,
incelik ve uzaklığı ölçer. |
|
Yazılım
Windows
XP, altında çalışan Multitop Kontrol yazılımı ölçüm sürecini ve ölçüm
sistemini denetler. Precitec Optronik MARK III yazılımı kaydedilmiş olan
topoğrafik ve profil bilgilerinin ayrıntılı analizlerle kullanılmasını
sağlar. |
|
Başvurulan
Alanlar
-
Üretim ve süreç
kontrolünde
-
Kalite Güvence
-
Araştırma
geliştirmede
|
|
|
NEMESIS P |
|
Gezinme |
25 mm
x 25 mm |
|
Maksimum gezinme hızı |
20
mm/s |
|
Gezinme yönünde aks başına isabetlilik durumu |
± 1 µm |
|
Aks
başına düzlük/doğruluk |
± 0,5
µm |
|
Z aksı |
Manuel
uyarlanma |
|
Sensör
*) |
CHR
150 E |
|
Ağırlık |
2,250
g |
|
*) Çözünürlük ve ölçüm isabetliliği,
sensör başlığının ölçüm aralığına bağlıdır |
|
Ölçüm
aralığı |
300 µm |
|
Z’deki
çözünürlük |
10 nm |
|
Ölçüm
isabetliliği |
100 nm |
NEMESIS
CHR 150 E Optik Mesafe Sensörü ile Optik Yüzey Ölçümü
-
Topoğrafik yüzeyler
yapısı ne olursa olsun ölçülür (düz ve parlak, pürüzlü, mat, saydam)
-
Büyük küçük bütün
parçaların ve mikro-yapıların, boyutlu görüntülenmesi
-
Saydam nesnelerin,
ince tabakalarının ölçümü
-
Pürüzlülük, dalgalılık
ve kıvrımlılığın saptanması
-
Optik parçaların
ölçümü
|
|
 |
